半导体测试设备,IGBT动态,静态,可控硅综合参数测试仪,碳化硅,雪崩,浪涌等电参数测试仪
核心业务为半导体功率器件测试设主要有:
MOSFET参数测试设备:
静态;动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全;雪崩能力测试,老化及可靠性测试。
静态参数测试(动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Tu;老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备:
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