半导体测试设备，IGBT动态，静态，可控硅综合参数测试仪，碳化硅，雪崩，浪涌等电参数测试仪

核心业务为半导体功率器件测试设主要有：

MOSFET参数测试设备：

静态参数测试（包括IGSS / BVR / VDS（Sat） / IDSS / VGSTH / VF / RDS（on））；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/安全工作区）测试（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；雪崩能力测试，老化及可靠性测试（HTRB / HTGB）。

IGBT参数测试设备：

静态参数测试（包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE）；动态参数（开通关断/反向恢复/短路/安全工作区）测试（包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等）；老化及可靠性测试（HTRB / HTGB）。

二极管及可控硅/晶闸管（SCR）参数测试设备：

静态参数测试（包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL ）；动态参数测试（Turn_on&off / Qrr_FRD）；浪涌参数测试ITSM；di/dt测试；老化及可靠性测试（高温阻断）；热阻参数测试Rth。

产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势，将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。