半导体测试设备,IGBT动态,静态,可控硅综合参数测试仪,碳化硅,雪崩,浪涌等电参数测试仪
核心业务为半导体功率器件测试设主要有:
MOSFET参数测试设备:
静态;动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);雪崩能力测试,老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。
IGBT参数测试设备:
静态参数测试(动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Tu;老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。
二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备:
静态参数测;动态参数测试(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌参数测试ITSM;di/dt测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试R。