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可控硅综合参数测试

发布时间: 2021-09-07 16:04:54- 浏览量: (0次) - 回复: (0个)
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可控硅综合参数测试

概述

本试验设备可对大功率SCR器件的电气特性参数进行测试,该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备,对设备的电气性能要求高,系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进自动测试。测试方法符合 JB/T7626-2013 中的相关标准。

本设备采用计算机自动控制系统,后台软件实时监控、自动处理目标数据,具有测试精度高、操作方便、高效等优点。

通过计算机系统可对测试的结果数据进行保存,并且以excel文件形式输出保存。或直接连接打印机系统输出标签合格证,系统安全可靠,运行稳定。


该设备采用研华工业计算机控制,装有美国高速高精度NI-6221数据采集卡,通过LabVIEW软件编程,人机界面友好,操作简单,直观,夹具部分机械动作,安全防护等采用PLC自动化控制系统,有效保障操作人员的安全。

使用环境条件:

环境温度:5~35℃;

相对湿度:20%-70%;

大气压力:86Kpa~106Kpa;

电网:单项 220V±10%无严重谐波

电网频率:50Hz±1Hz;

电网功率:小于5KW


作者上传证件

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作者对所发布信息承诺

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承诺4、所发信息不违法、不骗人,我对所发信息负责,对所发的合作企业(机构)信息负责。

特色与简介:
  • 本试验设备可对大功率SCR器件的电气特性参数进行测试,该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备,对设备的电气性能要求高,系统的测试控制完全采用自动控制。
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