概述
EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。
测试系统特点
IV曲线显示/局部放大,程序保护电流/电压,以防损坏,品种繁多的曲线,可编程的数据点对应,增加线性或对数,可编程延迟时间可减少器件发热,保存和重新导入入口程序,保存和导入之前捕获图象,曲线数据直接导入到EXCEL,曲线程序和数据自动存入EXCEL,程序保护电流/电压,以防损坏,测试范围广(19总大类,27分类)
系统规格及技术指标
主极电压: 1mV-2000V
电压分辨率: 1mV
主极电流: 0.1nA-50A
扩展电流: 100A
电流分辨率: 0.1nA
测试精度: 0.2%+2LSB
测试速度: 0.5mS/参数
工作温度: 25℃--40℃
工作湿度: 45%--80%
贮存湿度: 10%--90%
工作电压: 200v--240v
电源频率: 47HZ--63HZ
通信接口: RS232 USB
系统功耗: <150w
设备尺寸: 450mm×570mm×280mm
质 量: 35KG
测试范围
二极管DIODE,晶体管(NPN型/PNP型),J型场效应管J-FET,MOS场效应管 MOS-FET双向可控硅TRIAC,可控硅SCR,绝缘栅双极大功率晶体管IGBT,硅触发可控硅STS
达林顿阵列DARLINTON,光电耦合OPTO-COUPLER,继电器RELAY,稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR,光电开关OPTO-SWITCH,光电逻辑OPTO-LOGIC,金属氧化物压变电阻MOV,固态过压保护器SSOVP,压变电阻VARISTOR,双向触发二极管DIAC
测试参数
漏电参数:IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益参数:hFE、CTR、gFS
导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)、Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数:VGSOFF
触发参数:IGT、VGT
保持参数:IH、IH+、IH-
锁定参数:IL、IL+、IL-
混合参数:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数:IL